光罩的判定与验证
确保光掩膜无缺陷戴口罩资格赛在使用光罩进入步进机或扫描仪之前，必须对所有光罩的缺陷进行鉴定，了解其对印刷性能的影响，并加以消除。AIMS是唯一能够在扫描仪等效条件下对光罩
产品展示
光罩修复技术
口罩修复解决方案通过电子束光罩修复实现零可打印缺陷的光罩向更小技术节点和特征尺寸的扩展趋势持续，极紫外技术在半导体行业中变得越来越重要。口罩制造的复杂性显著增加，也
同步加速光学
用于研究的明亮同步辐射光学高性能波束制导与波束成形蔡司30多年来一直为全球研究机构配备精密同步辐射光学和X射线光栅。用于结构分析及单色仪中的应用。用于物理学、生物
蔡司半导体掩膜解决方案（SMS）
我们的解决方案提升您的生产力广泛的遮罩解决方案使高端光罩的生产无可挑剔蔡司是全球半导体行业领先的制造和计量设备供应商。蔡司半导体掩膜解决方案（SMS）聚焦于半导体制造
半导体制造光学（SMO）
半导体制造光学未来光的光学系统没有光学元件就没有光刻。没有光刻的半导体就没有。没有半导体，就没有微芯片，没有微芯片，没有计算机——没有高科技产品。作为OEM（原
数字万用表 SDM3055X-E系列
SDM3055X-E系列同样具备5½位精度，保持了SDM3055的稳定性和可靠性，非常适合预算有限但又需要高质量测量的用户，是一款性价比极高的选择。主要特性5½ 位读数分辨率
数字万用表 SDM3055系列
SDM3055系列作为鼎阳科技的高性价比选择，提供5½位精度，适合日常测量和一般科研需求。尽管基础版本采样速率较低，但其稳定性和可靠性得到广泛认可。该系列支持数据存储和
数字万用表 SDM3065X系列
SDM3065X系列数字万用表以6½位高精度和10,000次/秒的高采样速率著称，满足多种精密测量需求。它同样具备数据可视化功能，支持多通道扫描卡测量，便于复杂环境下的应用。标
数字万用表 SDM4055A系列
SDM4055A 系列5½ 双显示数字万用表，拥有最高4,800 rdgs/s的读数速率，涵盖11种测量项，6种数学运算功能，并搭载5英寸触摸屏及全新UI设计，是一款针对高精度、多功能、自动测
数字万用表 SDM4065A系列
SDM4065A系列是鼎阳科技的旗舰级数字万用表，提供6½位高精度，最大读数速率高达50,000次/秒，确保快速准确的测量。内置热电偶冷端补偿，支持多种数据可视化功能如直方图、趋
数字万用表 SDM4075A系列
SDM4075A系列7½ 位数字万用表，拥有出众的精度、线性度及长期稳定性、超低的基线噪声、兼具多样化图形显示和高速数据采集功能屏，是一款针对高精度、多功能、自动测量的
高性能可编程电子负载 SDL1000X系列
SDL1000X系列高性能可编程电子负载，专为满足高精度测试需求设计。支持DC150 V/30 A，最大总功率可达300 W/200 W，适合多种测试场景。其核心特性包括可调电流上升/下降速率高达0.