AXI XS 系列
超高分辨率在线 AXI 平台 3D 检测揭示了诺信零缺陷战略的惊人细节。
Dynamic Planar CT 是下一代 3D 平面 X 射线检测的卓越软件，它将 AXI 提升到了一个新的水平。
概述
XS 系列为在线或独立式自动化 X 射线系统提供了一个平台，涵盖了广泛的自动化 X 射线检测 (AXI) 应用。 凭借多达 4 种高级图像采集模式，No Translation Needed 设置可满足您的所有应用和检测需求。
半导体市场有三种专用系统配置：
半导体——高分辨率引线键合检测。
半导体专业剥离仪 - 超高分辨率引线键合和倒装芯片检测。
半导体专业托盘 - 超高分辨率引线键合和倒装芯片检测，可处理 JEDEC、钢制和专用载体。