形状测量激光显微系统 VK-X4000 系列
形状测量激光显微系统 VK-X4000 系列采用了“三重扫描方式”,灵活运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,对各种目标物进行高精度的测量和分析。
形状测量激光显微系统 VK-X4000 系列采用了“三重扫描方式”,灵活运用激光共聚焦、白光干涉、聚焦变化等三种不同的扫描原理,对各种目标物进行高精度的测量和分析。
将VHX系列的核心功能“观测、拍摄、测量”集于一体。以便捷的操作实现高频使用功能的入门机型。可实现光学显微镜20倍*以上的大景深。可以多方位观测,确保没有遗漏
除级别超高*分辨率4K CMOS和支持4K的镜头外,还搭载了Advanced Optical Shadow Effect Mode功能,甚至能够清晰地观测到看不到的细小凹凸。全新操作系统,可直观操作。瞬间自动判
追求方便使用的通用型数字接触式传感器产品特性:1. 耐环境的感测头:IP67等级外壳2. 设计了无误差的两重变压器方式3. 简化的安装使总成本降低4. 安装简单方便5. 简化了基准设
通过接触实现,从0mm至50mm的高精度测量,水、油环境一样耐用。1μm精度,2亿次使用寿命。产品特性:1.备有29种丰富的传感器头种类可供选择GT2系列备有笔式、空气式、低速低压式
最多可耐受 200℃ 高温的涡电流位移传感器产品特性:1. 可耐受 200°C 高温的产品清单2. 配有跨度调整功能3. 配有零点调整功能
定位传感器可高精度地检测细微的位置偏差产品特性:1. 可在大温度范围内进行非接触而稳定的检测2. 单独的控制器即可检测 Hi/Lo 容差3. 多类型的感测头
高速, 高精度, 此数字涡电流位移传感器具有高解析度及每秒40,000 次取样速度产品特性:1.实现了可抓取瞬间变化的每秒40,000次高速采样搭载了新开发的线性修正电路(FLL 电路)。
采用近红外 SLD,即使已贴附 BG 带也可测量晶片本身的厚度。即使晶片表面存在由于图案而产生的显著差异,也可实现准确的生产线上测量。产品特性:1. 即使已贴附背面研磨带也可测
业界超细微型传感器头,超高精度,解决了内置电子零件传感次的发热问题,也不受电磁噪声影响。产品特性:1.传感头变化灵活,扩大测量范围传感头包括超小传感头、长距离传感头和适用于