2606B 高密度系统 SourceMeter (SMU) 仪器在 1U 高的机箱中提供四条 20 瓦 SMU 通道。由于制造商需要优化占地空间并减少测试时间和成本，2606B 将密度提高 3 倍、提高吞吐量并尽量减少增加测试设备机架的需求。此 SMU 为测试激光二极管、LED、2 和 3 端子半导体等生产的理想解决方案。 详细
Keithley 2600B 系列系统 SMU 仪器是业界标准电流-电压源和测量解决方案，适用于高度自动化生产测试应用。 双通道和单通道型号都紧密集成一个精密电源、真正电流源、数字万用表和具有脉冲生成功能的电子负载。 另外，TSP® 技术可运行完整测试程序，适用于自动化系统应用，TSP-链路®技术允许菊花式链接最多 64 条通道，适用于大容量并行测试。 详细
Keithley 2400 系列 SMU 仪器提供四象限精密电压和电流源/负载，外加触摸屏用户界面上的测量。 这些仪器可同时提供 10 fA - 10 A 脉冲电流和/或 100nV - 200V 电压、1000W 脉冲和 100W 直流总功率的源和测量。 详细
从三个敏感选项中选择，实现精确的高阻抗和低电流测量。5½ 位 6514 型和 6517B 型静电计提供 1fA 灵敏度，输入阻抗 >200TΩ 的电压测量，以及低至 10fC 的电荷测量。6½ 位 6430 型亚 fA 远程 SourceMeter SMU 仪器能够以 1aA 的灵敏度测量电流。其噪声低、偏差小，非常适用于研究单电子器件、高电阻纳米线和纳米管、聚合物以及电化学应用。 详细
DMM7510 集高精度、高分辨率数字万用表 (DMM)、图形触摸屏显示器和高速、高分辨率数字化器于一身，是第一款图形采样万用表。 其具有 pA 灵敏度和 1M 个样点/秒的采样率，能准确测量超低睡眠模式电流和传输无线设备的漏电流。 详细
触摸屏工作台/生产测试数字万用表具有更多测量能力（包括瞬态捕捉、数据可视化和分析），而价格仅与其他性能低得多的 6½ 位数字数字万用表相当。 详细
使用 4200A-SCS 加快半导体设备、材料和工艺开发的探索、可靠性和故障分析研究。 业内领先性能参数分析仪，提供同步电流-电压 (I-V)、电容-电压 (C-V) 和超快脉冲 I-V 测量。 详细
DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定，全面支持 光通信 标准、时域反射计和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155Mb/s - 400G PAM4 的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。 详细
DPO70000SX ATI 高性能示波器可提供准确的高速信号行为捕获，以证明、验证和检定您的下一代设计。 捕获可达 70 GHz 具有低噪声和高保真度的信号，从而确保准确地测量您的信号的真实特征。 详细
通过业内最高的波形捕获能力发现真实信号，捕获更多信号细节。 工具套件的设计能自动执行高速串行数据信号的设置、采集和分析，加快设计调试和一致性测试。 详细
高达 3.5 GHz 的带宽以及高达 40 GS/s 的采样率，使 DPO7000C 系列成为分析重要高速信号时的不二之选。 超过 30 种分析包为通信标准、抖动分析、内存总线标准、矢量分析等等提供深入测量。 此外，Windows 操作系统允许您就在仪器上运行自己的分析软件。 详细
在需要高速数字化仪的应用中，打开通道时不应牺牲性能。6 系列紧凑型数字化仪树立了新标准，不需交错采样率、带宽或记录长度。您可以从中获取最快最准确的性能 – 全都在2U 机架空间内。 详细