高速缺陷观测设备CR7300(Defect Review SEM) 高速缺陷观测设备CR7300(Defect Review SEM) 运用ADR和高精度ADC来为提高良率做贡献的Inline缺陷观测SEM。 特长: 1. 高画质，高对此，高解析度SEM图像 2. 高速缺陷摄像（ADR） 3. 人性化的GUI ← 返回列表 上一篇：缺陷形貌检测SEM CT1000
