分光干涉位移型多层膜厚测量仪 SI-T 系列
实现多层膜厚, 采用近红外光・没有危害, 实时在线检测,一秒1000次的采样频率,为当今膜厚测量仪的提供新的可能性。
产品特性：
1.粘附层也可以稳定测量
借助 KEYENCE配备的光量累计功能，
类似粘附层等粗糙的表面，也可以实现稳定测量。
2.实现广范围测量
在拉伸制程等过程中，可以应用于上游至下游的各种场所。
3.针对测量场景量身定制的阵容
多层位移测量型 SI-T10
长距离厚度测量型 SI-T80
实现多层膜厚, 采用近红外光・没有危害, 实时在线检测,一秒1000次的采样频率,为当今膜厚测量仪的提供新的可能性。
产品特性：
1.粘附层也可以稳定测量
借助 KEYENCE配备的光量累计功能，
类似粘附层等粗糙的表面，也可以实现稳定测量。
2.实现广范围测量
在拉伸制程等过程中，可以应用于上游至下游的各种场所。
3.针对测量场景量身定制的阵容
多层位移测量型 SI-T10
长距离厚度测量型 SI-T80