正立金相显微镜 BX53-P
偏振光观测全新标准
BX53 P 型偏光显微镜搭载 UIS2 无限校正光学系统，搭配独特的光路设计，能够在偏振光相关工作中展现出优异性能。种类丰富的适配补偿器，让 BX53 P 显微镜适用性极强，几乎可胜任所有领域的观测与测量工作
UIS2 光学系统具备出色的拓展性能UIS2 光学系统充分发挥无限远校正技术的优势，能够避免光学显微镜性能下降；即便在光路当中接入检偏器、着色板、补偿器等偏振元器件，系统也不会产生倍率偏差。BX53 P 显微镜兼容 BX3 系列显微镜所用的各类中间接驳配件，同时可外接摄像头以及成像系统。
伯特兰透镜用于锥光与正像观测
搭配锥光观测附件后，便可轻松切换正像观测以及锥光观测。该透镜支持调焦，能够清晰观测后焦面干涉图样。伯特兰透镜可通过调焦，清晰呈现后焦面干涉图案。视场光阑可以保障稳定获取成像锐利的锥光图像
种类齐全的补偿器与波片现有六款不同的补偿器，可用于测定岩石、矿物薄片的双折射率。可测量的光程差范围为 0 20λ。贝雷克补偿器与塞纳蒙补偿器能够调整整个视域的光程差，便于开展检测，还可获得更高的图像对比度。
低应力光学组件我们的偏振光物镜可将内部应力降至最低。这能够带来更高的 EF 数值，进而造就出众的图像对比度。
稳固精准的旋转载物台
装配于旋转载物台上的旋转定心结构，可让样品平稳转动。此外，设备每间隔 45° 配有卡位定位结构，用以实现精密测量。选配双机械载物台之后，便可实现精细的 XY 轴位移调节。