激光共聚焦显微镜解决方案 OLS5500
LEXT OLS5500 全新一代精准测量激光共聚焦显微镜
用于材料分析的激光显微镜 智能工作流程，更快地完成实验
LEXT™ OLS5500是一款屡获殊荣的成像平台，融合了激光扫描显微镜（LSM）、白光干涉仪（WLI）和聚焦变化显微镜（FVM）技术。 该产品专为研发、质量保证和质量控制团队设计，可提供精确的表面细节、可追溯的精度以确保测量的可靠性，以及直观的用户体验以简化工作流程。 由精密光学、可验证校准和智能自动化驱动的可信数据，帮助实验室实现从最初发现到最终判定的无缝过渡。 OLS5500融合LSM、WLI和FVM三种卓越成像技术于一体，在提供便捷操作体验的同时，实现了较传统激光共聚焦显微镜快40倍的检测效率。它也是款为LSM与WLI测量结果提供准确性与重复性*双重保障的三维光学轮廓测量设备。
测量更精准，工作更安心
屡获殊荣的 LEXT™ OLS5500融合了激光扫描显微镜（LSM）、白光干涉仪（WLI）和聚焦变化显微镜（FVM）三种技术于一体，确保清晰、准确地测量样品表面。
精准表面测量的全方位成像解决方案
LSM: 卓越的横向分辨率，精准测量粗糙纹理、微观结构和陡峭斜面。
WLI: 纳米级垂直精度，适合测量光滑表面、斜面和薄膜。
FVM: 从宏观到微观测量全覆盖，适用于测量需要更广视野的大面积或不规则区域。
多种测量方法互为补充—可为每一种表面提供合适的成像模式。 一套系统覆盖从纳米级到毫米级测量、从平坦区域到陡峭斜坡测量，生成全面、真实的表面数据。