是德科技推出多通道误码仪，助力 AI 数据中心高速 1.6T 互连误码性能验证
2026-04-02 17:04:01
是德科技（NYSE：KEYS）近日推出功能性互联测试解决方案FITS-8CH多通道误码仪。FITS-8CH 提供用于网络设备和生产网络基础设施的高速光学与铜互连误码率（BER）以及前向纠错（FEC）性能验证。 随着互连速度不断提升且设计日益复杂，芯片、光学和铜互连以及网络设备制造商面临越来越大的压力，需要在产品进入大规模生产前以及整个制造过程中确保可靠性。传统的物理层测试工具在验证电气通道是否符合行业规范方面发挥了重要作用，为建立坚实的一致性基准提供支持。在此基础上，系统级验证可进一步洞察全互连及子组件在实际环境中的性能，包括误码行为。 只有对所有电气或光学通道进行高速误码性能验证，才能准确评估真实系统条件。如果缺乏此类测试，将增加生产延迟或现场故障的风险。这包括验证支撑当前 400GE、800GE 和 1.6T 以太网网络架构的高速 PAM4 电气通道在 53 Gb/s、106 Gb/s 和 212 Gb/s 下的误码性能。 FITS-8CH 通过提供多通道误码性能验证，解决了系统级误码性能检测的缺口，支持所有相关电气通道速度下的 PAM4 误码性能评估，超越物理层测量能力，实现从设计、开发到制造的可靠验证，以便在大规模网络部署中使用。该机箱还可与 Keysight 的物理层测试解决方案集成，扩展了可支持的应用和拓扑类型。 FITS-8CH 以可靠性、可扩展性和制造就绪性为设计基础，能够满足当前网络测试的需求。在这些应用中，即便是微小的误码性能问题也可能对大规模部署产生影响。其主要优势包括： • 多通道 BER 和 FEC 验证：支持八个发射和八个接收通道的双向实时测试，支持PAM4 信号速率从 53 Gb/s 到 212.5 Gb/s。使用 BER 和 FEC 测试系统级误码性能，可验证完整光学和铜互连组件，而不仅是关键阶段的独立测量。适用于研发、产品开发、生产测试、终端测试及系统级验证，帮助制造商自信地将验证通过的预生产设计投放大规模生产，并在真实操作条件下验证可靠性。 • 灵活的通道架构：两组互补通道：高驱动输出和芯片到模块（C2M）接口，支持更广泛的电气夹具和互连拓扑，提供更大灵活性，可支持多种电气夹具、以太网互连、有源线缆及硅拓扑，而无需重新设计测试设置或降低信号完整性。 • 高质量信号生成：符合 IEEE P802.3dj 标准，即使在复杂条件下也能提供优异信号完整性。为所有支持通道速率提供准确的 BER 和 FEC 测量所需的干净、可控的发射信号，可基于真实设备或互连的行为评估误码性能，而非测试环境限制。 • 自动通道调优：按通道优化 PAM4 信号输出，自动调整发射 tap 设置，打开每个通道的电眼，提高测量一致性和可重复性，降低因边缘或临界误码性能组件通过测试而带来的风险。 • 提前发现制造和配置问题：可在在制或终端测试过程中识别机械错位、热故障、数字信号处理器（DSP）tap 设置不优化或错误等问题，降低有缺陷产品流向客户的风险及成本。