思仪科技推出500GHz多功能芯片测试解决方案
太赫兹技术正加速从实验室走向商业应用，使得行业对太赫兹芯片测试的要求发生了根本性转变：测试目标已不再局限于功能层面的“能用”，而是全面追求复杂真实场景中性能稳定、测试高效且成本可控的“好用”。 思仪科技研制出3601型S参数测试模块、36102型探针、20501型校准片等系列产品，结合商业探针台，国内首次推出更高频率至500GHz的高稳定、多功能太赫兹芯片测试解决方案。 高频 采用分频段的方式，可将芯片测试频率扩展至500GHz，能够实现太赫兹芯片幅度、相位、群时延等参数精准测试。 高稳定 该方案在500GHz频段具有良好的幅度稳定性和相位稳定性，能够适于晶圆级太赫兹芯片的研发验证与量产测试。 多功能 结合自主开发的多功能测试软件算法，一次扎针可实现散射参数、功率参数的一体化测试，可大幅度提升晶圆级太赫兹芯片的测试效率和测试精度。